當前位置：
用于晶圓的縱向克爾效應量測系統 BH-618SK（顯微OCT掃頻測振/磁光克）用于8英寸或12英寸晶圓的硬盤磁頭和磁傳感器目標映射測量的非接觸式評估系統。
查看詳情
熱門搜索：
P760/01_2760nm單模垂直腔面發射激光器
VCSEL-20-M激光控制驅動器
ZNSP25.4-1IR拋光硫化鋅(ZnS)多光譜(透明)窗片 0.37-13.5um 25.4X1.0mm（晶體/棱鏡
2x4 QPSK C波段相干混頻器（信號解調/鎖相放大器等）
Frequad-W-CW DUV 單頻連續激光器 213nm 10mW Frequad-W
ER40-6/125截止波長1300nm 高摻雜EDF摻鉺光纖
SNA-4-FC-UPC日本精工法蘭FC/UPC（連接器/光纖束/光纜）
GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光電二極管 400-1100nm
WISTSense Point 緊湊型高精度光纖傳感器解調儀（信號解調/鎖相放大器等）
CO2激光光譜分析儀
超高功率光束質量分析儀
350-2000nm 1倍紅外觀察鏡
1030nm超短脈沖種子激光器PS-PSL-1030
NANOFIBER-400-9-SA干涉型單模微納光纖傳感器 1270-2000nm
高能激光光譜光束組合的光柵 （色散勻化片）
S+C+L波段 160nm可調諧帶通濾波器
product
產品分類400-828-1550
用于晶圓的縱向克爾效應量測系統 BH-618SK（顯微OCT掃頻測振/磁光克）用于8英寸或12英寸晶圓的硬盤磁頭和磁傳感器目標映射測量的非接觸式評估系統。
查看詳情
用于晶圓的極向克爾效應測量系統 BH-810CPC25（顯微OCT掃頻測振/磁光克）用于磁性半導體的 8 英寸或 12 英寸晶圓目標映射測量的非接觸式評估系統。
查看詳情
垂直磁各向異性評價系統 BH-R810( 顯微鏡/測振/磁光克爾)產品總覽在固定磁場方向下具有旋轉樣品架的角度依賴性分析系統。
查看詳情
熱輔助磁記錄介質的非接觸HAM/RTAMR評估系統( 顯微鏡/測振/磁光克爾)產品總覽產生磁場±6.5T的熱（Thermal）輔助磁記錄介質（HAMR或TAMR）非接觸評估系統。
查看詳情
PP:Mg-SLT 可變啁啾率帶寬可選QPM設備（非線性模塊/倍頻）Quasi-phase Matching (QPM)一種使用周期性結構實現相位匹配的技術用于寬頻帶源SHG器件(fs~ps脈沖激光器...
查看詳情
PP:Mg-SLN 可變交互長度帶寬可選QPM設備（非線性模塊/倍頻）Quasi-phase Matching (QPM)一種使用周期性結構實現相位匹配的技術用于寬頻帶源SHG器件(fs~ps脈沖激光...
查看詳情
1um高分辨率光束質量分析儀 350-1310nm 產品應用激光光束分析：輪廓，光束尺寸，位置，功率激光光束質量分析多波長激光準直
查看詳情
用于寬帶深紫外 (DUV) 和 EUV / XUV 光的旋光儀(偏振儀)產品總覽(Polarimeter for broadband deep UV (DUV) & EUV / XUV light )...
查看詳情
高速波前傳感器 400-800nm 光束直徑2.0-4.6mm 產品總覽PULSTEC該傳感器基于Shack-Hartmann方法，能夠實時測量光源和光學像差。
查看詳情
2-100nm XUV/EUV 寬帶軟X射線高分辨率光譜儀產品總覽具有高分辨率和效率的多功能光譜儀隨著在半導體制造中使用 13.5 nm輻射的 EUV 光刻技術的發展，極紫外輻射（EUV、XUV）已成...
查看詳情